LTCC陶瓷元器件測(cè)試分選機(jī)           

型號(hào)：JDL-B1063A

用途：可用于各種芯片電子元器件的測(cè)試，印字，外觀檢及包裝。

性能及參數(shù)

上料方式：振動(dòng)盤上料模式；

包裝方式：自動(dòng)封合、自動(dòng)裁切、自動(dòng)卷收；

測(cè)試方式：可開(kāi)爾文測(cè)試、極性測(cè)試；

檢測(cè)速度：根據(jù)實(shí)際測(cè)試時(shí)間而定：

Vision項(xiàng)目：方向判斷、字符檢測(cè)、3D引腳尺寸大小、外觀和判斷有無(wú)；

機(jī)臺(tái)產(chǎn)能：≥40K/H檢測(cè)包裝產(chǎn)品反料/無(wú)料、字樣錯(cuò)誤/缺陷